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Bolacha do carboneto de silicone
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Sistemas de epitaxia e MOCVD para o processo de CVD de Wafer Dummy SiC (EPI)

Sistemas de epitaxia e MOCVD para o processo de CVD de Wafer Dummy SiC (EPI)

Nome da marca: ZMSH
MOQ: 1
preço: by case
Detalhes da embalagem: caixas personalizadas
Condições de pagamento: T/T
Informações detalhadas
Lugar de origem:
China
Nota:
Grau MPD Zero,Grau de Produção,Grau de Pesquisa,Grau Fictício
Resistividade 4H-N:
0.015~0.028 Ω•cm
Resistividade 4/6H-SI:
≥1E7 Ω·cm
Flat primário:
{10-10} ± 5,0° ou forma redonda
TTV/Bow/Warp:
≤ 10 μm /≤ 10 μm /≤ 15 μm
Rugosidade:
Rugosidade polonesa Ra≤1 nm / Rugosidade CMP Ra≤0.5 nm
Habilidade da fonte:
Por caso
Destacar:

Wafer simulado de SiC para processo CVD

,

Wafer EPI SiC para sistemas MOCVD

,

Wafer de epitaxia de carburo de silício

Descrição do produto

Visão geral do wafer epitaxial SiC

Os Wafers Epitaxiais de SiC estão emergindo agora como o fator de forma mais avançado na indústria de SiC. Representando o que há de mais moderno em ciência de materiais e capacidade de fabricação, os wafers epitaxiais de SiC de 8” oferecem oportunidades incomparáveis ​​para aumentar a produção de dispositivos de energia e, ao mesmo tempo, reduzir o custo por dispositivo.

 

À medida que a procura por veículos eléctricos, energias renováveis ​​e electrónica de potência industrial continua a aumentar a nível global, os wafers estão a permitir uma nova geração de MOSFETs de SiC, díodos e módulos de potência integrados com maior rendimento, melhor rendimento e custos de produção mais baixos.

Com amplas propriedades de bandgap, alta condutividade térmica e tensão de ruptura excepcional, os wafers de SiC estão desbloqueando novos níveis de desempenho e eficiência em eletrônica de potência avançada.

 

Sistemas de epitaxia e MOCVD para o processo de CVD de Wafer Dummy SiC (EPI) 0Sistemas de epitaxia e MOCVD para o processo de CVD de Wafer Dummy SiC (EPI) 1

 


 

Como são feitas as bolachas epitaxiais de SiC

 

A fabricação de wafers epitaxiais de SiC requer reatores CVD de última geração, controle preciso do crescimento de cristais e tecnologia de substrato ultraplano:

  1. Fabricação de substrato
    Substratos monocristalinos de SiC são produzidos por meio de técnicas de sublimação em alta temperatura e posteriormente polidos até obterem rugosidade subnanométrica.

  2. Crescimento epitaxial de DCV
    Ferramentas avançadas de CVD em grande escala operam a ~1600 °C para depositar camadas epitaxiais de SiC de alta qualidade nos substratos de 8”, com fluxo de gás otimizado e uniformidade de temperatura para lidar com áreas maiores.

  3. Doping Personalizado
    Perfis de dopagem tipo N ou tipo P são criados com alta uniformidade em todo o wafer de 300 mm.

  4. Metrologia de Precisão
    O controle de uniformidade, o monitoramento de defeitos de cristal e o gerenciamento de processos in-situ garantem a consistência do centro até a borda do wafer.

  5. Garantia de Qualidade Abrangente
    Cada wafer é validado por meio de:

    • AFM, Raman e XRD

    • Mapeamento completo de defeitos de wafer

    • Análise de rugosidade superficial e empenamento

    • Medições de propriedades elétricas


Especificações

  Nota   Substrato SiC tipo N de 8 polegadas
1 Politipo -- 4HSiC
2 CondutividadeTipo -- N
3 Diâmetro milímetros 200,00±0,5mm
4 Grossura hum 700±50µm
5 CrystalSurfaceOrientationAxis grau 4,0° em direção a ±0,5°
6 Profundidade de entalhe milímetros 1 ~ 1,25 mm
7 Orientação de entalhe grau ±5°
8 Resistividade (Média) Ωcm N / D
9 TTV hum N / D
10 LTV hum N / D
11 Arco hum N / D
12 Urdidura hum N / D
13 MPD cm-2 N / D
14 TSD cm-2 N / D
15 DBP cm-2 N / D
16 TED cm-2 N / D
17 DEP cm-2 N / D
18 Politipos Estrangeiros -- N / D
19 SF (BSF) (tamanho da grade de 2x2mm) % N / D
20 TUA (área utilizável total) (tamanho da grade de 2x2mm) % N / D
21 NominalEdgeExclusão milímetros N / D
22 Arranhões visuais -- N / D
23 Comprimento cumulativo de arranhões (SiSurface) milímetros N / D
24 SiFace -- CMP polido
25 Cface -- CMP polido
26 Rugosidade superficial (Siface) nm N / D
27 Rugosidade superficial (Cface) nm N / D
28 marcação a laser -- Cface, acima do entalhe
29 Edgechip (superfícies frontais e traseiras) -- N / D
30 Placas hexadecimais -- N / D
31 Rachaduras -- N / D
32 Partícula (≥0,3um) -- N / D
33 Contaminação de área (manchas) -- Nenhum: Ambas as faces
34 Contaminação Residual de Metais (ICP-MS) átomo/cm2 N / D
35 EdgeProfile -- Chanfro, formato R
36 Embalagem -- Multi-waferCassetteOrSingleWaferContainer

 

 


Aplicativos

 Os wafers epitaxiais de SiC permitem a produção em massa de dispositivos de energia confiáveis ​​em setores que incluem:

  • Veículos Elétricos (EVs)
    Inversores de tração, carregadores integrados e conversores DC/DC.

  • Energia Renovável
    Inversores de string solar, conversores de energia eólica.

  • Unidades Industriais
    Acionamentos de motores eficientes, sistemas servo.

  • Infraestrutura 5G/RF
    Amplificadores de potência e interruptores de RF.

  • Eletrônicos de consumo
    Fontes de alimentação compactas e de alta eficiência.


Perguntas frequentes (FAQ)

1. Qual é a vantagem dos wafers de SiC de 8”?
Eles reduzem significativamente o custo de produção por chip através do aumento da área do wafer e do rendimento do processo.

 

2. Quão madura é a produção de SiC de 8”?
8” está entrando em produção piloto com líderes selecionados do setor – nossos wafers já estão disponíveis para pesquisa e desenvolvimento e aumento de volume.

 

3. O doping e a espessura podem ser personalizados?
Sim, está disponível personalização completa do perfil de dopagem e espessura epi.

 

4. As fábricas existentes são compatíveis com wafers SiC de 8”?
Pequenas atualizações de equipamento são necessárias para compatibilidade total de 8”.

 

5. Qual é o prazo de entrega típico?
6–10 semanas para pedidos iniciais; mais curto para volumes repetidos.

 

6. Quais indústrias adotarão o SiC de 8” mais rapidamente?
Setores automotivo, de energia renovável e de infraestrutura de rede.

 


 

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