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Detalhes dos produtos

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Bolacha do carboneto de silicone
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Oblek de Silício-Carbono Epitaxial de 8 polegadas (Oblek SiC Epi)

Oblek de Silício-Carbono Epitaxial de 8 polegadas (Oblek SiC Epi)

Nome da marca: ZMSH
Número do modelo: SiC Epi Wafer
MOQ: 1
preço: by case
Detalhes da embalagem: caixas personalizadas
Condições de pagamento: T/T
Informações detalhadas
Lugar de origem:
China
Habilidade da fonte:
Por caso
Destacar:

Wafer de carburo de silício de 8 polegadas

,

Wafer epitaxial de SiC

,

Wafer Epi de carburo de silício com garantia

Descrição do produto

Visão Geral do Produto

O wafer epitaxial de Carboneto de Silício (SiC) de 8 polegadas é um material semicondutor de alto desempenho projetado para eletrônica de potência de próxima geração. Construída sobre substratos de SiC de alta qualidade de 8 polegadas, a camada epitaxial é cultivada usando tecnologia avançada de deposição química em fase vapor (CVD) para alcançar espessura precisa, controle de dopagem e qualidade cristalina superior.

 

Em comparação com wafers de silício tradicionais, os wafers epitaxiais de SiC oferecem propriedades elétricas, térmicas e mecânicas excepcionais, tornando-os ideais para aplicações de alta tensão, alta frequência e alta temperatura.

 

Oblek de Silício-Carbono Epitaxial de 8 polegadas (Oblek SiC Epi) 0     Oblek de Silício-Carbono Epitaxial de 8 polegadas (Oblek SiC Epi) 1


Princípio de Funcionamento

A camada epitaxial de SiC é depositada em um substrato de SiC polido através de um processo CVD de alta temperatura. Durante o crescimento:

  • Gases contendo silício e carbono reagem em temperaturas elevadas
  • Uma camada de SiC monocristalina é formada seguindo a rede do substrato
  • Gases dopantes (Tipo N ou Tipo P) são introduzidos para controlar as propriedades elétricas

Esta camada epitaxial serve como a região ativa para a fabricação de dispositivos, permitindo o controle preciso do desempenho do dispositivo, como tensão de ruptura e resistência em condução.

 

Oblek de Silício-Carbono Epitaxial de 8 polegadas (Oblek SiC Epi) 2

 


Principais Características

  • Grande Diâmetro (8 polegadas / 200 mm): Suporta fabricação de alto volume e redução de custos
  • Baixa Densidade de Defeitos: Minimiza micropipes e discordâncias
  • Excelente Uniformidade de Espessura: Garante desempenho consistente do dispositivo
  • Controle Preciso de Dopagem: Suporta características elétricas personalizadas
  • Alta Condutividade Térmica: Adequado para aplicações de alta potência
  • Amplo Gap de Banda (~3,26 eV): Permite operação em alta temperatura e alta tensão

 


Especificações Típicas

Oblek de Silício-Carbono Epitaxial de 8 polegadas (Oblek SiC Epi) 3 

Item Especificação
Diâmetro do Wafer 8 polegadas (200 mm)
Tipo de Substrato 4H-SiC
Tipo de Condutividade Tipo N / Semi-isolante
Espessura da Epi 5 – 100 µm (personalizável)
Concentração de Dopagem 1E14 – 1E19 cm⁻³
Uniformidade de Espessura ≤ ±5%
Rugosidade da Superfície Ra ≤ 0,5 nm
Densidade de Defeitos Baixa densidade de micropipes
Orientação 4° fora do eixo ou no eixo
 

 

 

 


Aplicações

Os wafers epitaxiais de SiC de 8 polegadas são amplamente utilizados em dispositivos avançados de potência e RF, incluindo:

  • Veículos Elétricos (VEs): Inversores, carregadores de bordo
  • Sistemas de Energia Renovável: Inversores solares, conversores de energia eólica
  • Módulos de Potência Industrial: Acionamentos de motor de alta eficiência
  • Sistemas de Carregamento Rápido: Dispositivos de comutação de alta frequência
  • Dispositivos 5G e RF: Amplificadores de RF de alta potência

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Vantagens sobre o Silício

  • Campo elétrico de ruptura mais alto (≈10× silício)
  • Perdas de comutação mais baixas
  • Temperatura de operação mais alta (>200°C)
  • Melhor eficiência energética
  • Redução do tamanho do sistema e requisitos de resfriamento

 


Processo de Fabricação

A produção de wafers epi de SiC de 8 polegadas envolve:

  1. Preparação do Substrato – Polimento e limpeza de wafer de SiC de alta pureza
  2. Crescimento Epitaxial (CVD) – Deposição controlada de camada de SiC
  3. Controle de Dopagem – Introdução precisa de dopantes
  4. Tratamento de Superfície – Polimento CMP para superfície ultra-lisa
  5. Inspeção e Teste – Verificação de espessura, defeitos e propriedades elétricas

 


FAQ

P1: Qual é a diferença entre substrato de SiC e wafer epi de SiC?

R: O substrato é o material base, enquanto a camada epitaxial é a camada funcional onde os dispositivos são fabricados.

 

P2: A espessura da epi e a dopagem podem ser personalizadas?

R: Sim, tanto a espessura quanto a concentração de dopagem podem ser adaptadas de acordo com os requisitos do dispositivo.

 

P3: Por que escolher wafers de SiC de 8 polegadas?

R: O tamanho maior do wafer melhora a eficiência de produção e reduz o custo por dispositivo, suportando a produção em massa.