| Nome da marca: | ZMSH |
| MOQ: | 1 |
| preço: | by case |
| Detalhes da embalagem: | caixas personalizadas |
| Condições de pagamento: | T/T |
A bolacha de carburo de silício (SiC) de 12 polegadas representa a próxima geração de substratos de semicondutores de banda larga,concebidos para apoiar a produção em larga escala de dispositivos eletrónicos de alta potênciaEm comparação com as wafers convencionais de SiC de 6 e 8 polegadas, o formato de 12 polegadas aumenta significativamente a área de chip utilizável por wafer, melhora a eficiência de fabricação,e oferece um forte potencial de redução de custos a longo prazo.
O carburo de silício é um material semicondutor de banda larga com alta resistência de campo elétrico de degradação, excelente condutividade térmica, alta velocidade de deriva de elétrons saturados,e excelente estabilidade térmicaEstas propriedades tornam as placas de SiC de 12 polegadas uma plataforma ideal para aplicações de alta tensão, alta potência e alta temperatura.
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Materiais: Carbono de silício monocristalino (SiC)
Politipo: 4H-SiC (padrão para dispositivos de potência)
Tipo de condutividade:
Tipo N (dopado com nitrogénio)
Semi-isolação (personalizável)
O crescimento de cristais individuais de SiC de 12 polegadas requer controle avançado de gradientes de temperatura, distribuição de estresse e incorporação de impurezas.A tecnologia de crescimento de cristais PVT (Physical Vapor Transport) melhorada é tipicamente empregada para alcançar grandes diâmetros, bolinhas de SiC de baixo defeito.
A produção de wafers de SiC de 12 polegadas envolve uma série de processos de alta precisão:
Crescimento de cristal único de grande diâmetro
Orientação dos cristais e corte de lingotes
Moagem de precisão e afinação de wafers
Poluição de um ou dois lados
Limpeza avançada e inspecção completa
Cada passo é rigorosamente controlado para garantir excelente planície, uniformidade de espessura e qualidade da superfície.
Maior rendimento do dispositivo por wafer: O tamanho maior da bolacha permite mais chips por rodada
Melhoria da eficiência da fabricaçãoOptimizado para fábricas de última geração
Potencial de redução de custos: Menor custo por dispositivo na produção em grande volume
Performance térmica e elétrica superior: Ideal para condições de funcionamento adversas
Forte compatibilidade de processos: Adequado para a fabricação de dispositivos de potência SiC convencionais
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Veículos elétricos (MOSFET SiC, diodos SiC Schottky)
Carregadores de bordo (OBC) e inversores de tração
Infraestrutura de recarga rápida e módulos de energia
Inversores solares e sistemas de armazenamento de energia
Motores industriais e sistemas ferroviários
Eletrónica de potência de ponta e aplicações de defesa
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| Ponto | Tipo NGrau de produção (P) | Tipo NGrau de simulação (D) | Tipo SIGrau de produção (P) |
|---|---|---|---|
| Politipo | 4H | 4H | 4H |
| Tipo de doping | Tipo N | Tipo N | / |
| Diâmetro | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Espessura | Verde: 600 ± 100 μm / Branco transparente: 700 ± 100 μm | Verde: 600 ± 100 μm / Branco transparente: 700 ± 100 μm | Verde: 600 ± 100 μm / Branco transparente: 700 ± 100 μm |
| Orientação da superfície (fora do corte) | 4° em direcção< 11-20>± 0,5° |
4° em direcção< 11-20>± 0,5° |
4° em direcção< 11-20>± 0,5° |
| Identificador de wafer / plano primário | Notch (wafer redonda) | Notch (wafer redonda) | Notch (wafer redonda) |
| Profundidade do entalhe | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm |
| TTV (variação da espessura total) | ≤ 10 μm | NA | ≤ 10 μm |
| MPD (Densidade de microtubos) | ≤ 5 ea/cm2 | NA | ≤ 5 ea/cm2 |
| Resistividade | Zona de medição:Centro Área de 8 polegadas | Zona de medição:Centro Área de 8 polegadas | Zona de medição:Centro Área de 8 polegadas |
| Tratamento de superfície da superfície de Si | CMP (polido) | Moagem | CMP (polido) |
| Processamento de borda | Chamfer | Sem Chamfer. | Chamfer |
| Chips de borda (permitidos) | Profundidade do chip < 0,5 mm | Profundidade da fivela < 1,0 mm | Profundidade do chip < 0,5 mm |
| Marcação a laser | Marcação do lado C / De acordo com as exigências do cliente | Marcação do lado C / De acordo com as exigências do cliente | Marcação do lado C / De acordo com as exigências do cliente |
| Área de politipo (luz polarizada) | Nenhum politipo (exclusão de borda de 3 mm) | Área de polimorfismo < 5% (exclusão da borda 3 mm) | Nenhum politipo (exclusão de borda de 3 mm) |
| Fissuras (luz de alta intensidade) | Sem rachaduras (exclusão da borda de 3 mm) | Sem rachaduras (exclusão da borda de 3 mm) | Sem rachaduras (exclusão da borda de 3 mm) |
P1: As bolachas de SiC de 12 polegadas estão prontas para produção em massa?
R: As placas de SiC de 12 polegadas estão atualmente no estágio inicial de industrialização e estão sendo ativamente avaliadas para produção piloto e em volume por fabricantes líderes em todo o mundo.
P2: Quais são as vantagens de wafers de SiC de 12 polegadas em comparação com wafers de 8 polegadas?
R: O formato de 12 polegadas aumenta significativamente a produção de chips por wafer, melhora o rendimento da fábrica e oferece vantagens de custo a longo prazo.
Q3: As especificações da bolacha podem ser personalizadas?
R: Sim, podem ser personalizados parâmetros como tipo de condutividade, espessura, método de polimento e grau de inspeção.