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Detalhes dos produtos

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Bolacha do carboneto de silicone
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Wafer de carburo de silício (SiC) de 6 polegadas para óculos AR MOS SBD

Wafer de carburo de silício (SiC) de 6 polegadas para óculos AR MOS SBD

Nome da marca: ZMSH
MOQ: 1
preço: by case
Detalhes da embalagem: caixas personalizadas
Condições de pagamento: T/T.
Informações detalhadas
Lugar de origem:
CHINA
Diâmetro:
149,5mm - 150,0mm
Poli-tipo:
4h
Grossura:
350 µm ± 15 µm
Densidade de Micropipe:
≤ 0,2cm²
Resistividade:
0,015 - 0,024Ω·cm
Comprimento liso preliminar:
475 mm ± 2,0 mm
Habilidade da fonte:
Por caso
Destacar:

6-inch silicon carbide wafer

,

SiC wafer for AR glasses

,

MOS SBD silicon carbide wafer

Descrição do produto

Visão Geral do Produto

O wafer de 6 polegadas de Carbeto de Silício (SiC) é um substrato semicondutor de última geração projetado para aplicações eletrônicas de alta potência, alta temperatura e alta frequência. Com condutividade térmica superior, ampla banda proibida e estabilidade química, os wafers de SiC permitem a fabricação de dispositivos de potência avançados que oferecem maior eficiência, maior confiabilidade e pegadas menores em comparação com as tecnologias tradicionais baseadas em silício.

 

A ampla banda proibida do SiC (~3,26 eV) permite que dispositivos eletrônicos operem em tensões superiores a 1.200 V, temperaturas acima de 200°C e frequências de comutação várias vezes maiores do que o silício. O formato de 6 polegadas oferece uma combinação equilibrada de escalabilidade de fabricação e custo-benefício, tornando-o o tamanho principal para a produção industrial em massa de MOSFETs de SiC, diodos Schottky e wafers epitaxiais.

Wafer de carburo de silício (SiC) de 6 polegadas para óculos AR MOS SBD 0       Wafer de carburo de silício (SiC) de 6 polegadas para óculos AR MOS SBD 1


Princípio de Fabricação

Wafer de carburo de silício (SiC) de 6 polegadas para óculos AR MOS SBD 2O wafer de SiC de 6 polegadas é cultivado usando a Tecnologia de Transporte de Vapor Físico (PVT) ou Crescimento por Sublimação. Nesse processo, o pó de SiC de alta pureza é sublimado em temperaturas superiores a 2.000°C e recristalizado em um cristal semente sob gradientes térmicos precisamente controlados. O lingote de SiC de cristal único resultante é então fatiado, lapidado, polido e limpo para obter planicidade e qualidade de superfície de nível de wafer.

 

Para a fabricação de dispositivos, camadas epitaxiais são depositadas na superfície do wafer via Deposição Química de Vapor (CVD), permitindo o controle preciso sobre a concentração de dopagem e a espessura da camada. Isso garante um desempenho elétrico uniforme e defeitos mínimos de cristal em toda a superfície do wafer.


Principais Características e Vantagens

  • Ampla Banda Proibida (3,26 eV): Permite operação de alta tensão e eficiência de energia superior.

  • Alta Condutividade Térmica (4,9 W/cm·K): Garante a dissipação eficiente de calor para dispositivos de alta potência.

  • Alto Campo Elétrico de Ruptura (3 MV/cm): Permite estruturas de dispositivos mais finas com menor corrente de fuga.

  • Alta Velocidade de Saturação de Elétrons: Suporta comutação de alta frequência e tempos de resposta mais rápidos.

  • Excelente Resistência Química e à Radiação: Ideal para ambientes agressivos, como aeroespacial e sistemas de energia.

  • Diâmetro Maior (6 polegadas): Melhora o rendimento do wafer e reduz o custo por dispositivo na produção em massa.


Aplicações

  • SiC em Óculos AR:
    Materiais de SiC melhoram a eficiência energética, reduzem a geração de calor e permitem sistemas AR mais finos e leves por meio de alta condutividade térmica e propriedades de ampla banda proibida.

  •  

  • SiC em MOSFETs:
    MOSFETs de SiC fornecem comutação rápida, alta tensão de ruptura e baixa perda, tornando-os ideais para drivers de microdisplay e circuitos de energia de projeção a laser.

  •  

  • SiC em SBDs:
    Diodos de Barreira Schottky de SiC oferecem retificação ultrarrápida e baixa perda de recuperação reversa, aprimorando o carregamento e a eficiência do conversor CC/CC em óculos AR.

Wafer de carburo de silício (SiC) de 6 polegadas para óculos AR MOS SBD 3

  •  

Especificações Técnicas (personalizável)

 

Especificação do wafer de SiC tipo 4H-N de 6 polegadas

Propriedade Grau de Produção Zero MPD (Grau Z) Grau Dummy (Grau D)
Grau Grau de Produção Zero MPD (Grau Z) Grau Dummy (Grau D)
Diâmetro 149,5 mm - 150,0 mm 149,5 mm - 150,0 mm
Poli-tipo 4H 4H
Espessura 350 µm ± 15 µm 350 µm ± 25 µm
Orientação do Wafer Fora do eixo: 4,0° em direção a <1120> ± 0,5° Fora do eixo: 4,0° em direção a <1120> ± 0,5°
Densidade de Micropipos ≤ 0,2 cm² ≤ 15 cm²
Resistividade 0,015 - 0,024 Ω·cm 0,015 - 0,028 Ω·cm
Orientação Plana Primária [10-10] ± 50° [10-10] ± 50°
Comprimento Plano Primário 475 mm ± 2,0 mm 475 mm ± 2,0 mm
Exclusão de Borda 3 mm 3 mm
LTV/TIV / Curvatura / Empenamento ≤ 2,5 µm / ≤ 6 µm / ≤ 25 µm / ≤ 35 µm ≤ 5 µm / ≤ 15 µm / ≤ 40 µm / ≤ 60 µm
Rugosidade Polimento Ra ≤ 1 nm Polimento Ra ≤ 1 nm
CMP Ra ≤ 0,2 nm ≤ 0,5 nm
Fissuras de Borda por Luz de Alta Intensidade Comprimento cumulativo ≤ 20 mm, comprimento único ≤ 2 mm Comprimento cumulativo ≤ 20 mm, comprimento único ≤ 2 mm
Placas Hexagonais por Luz de Alta Intensidade Área cumulativa ≤ 0,05% Área cumulativa ≤ 0,1%
Áreas de Polímero por Luz de Alta Intensidade Área cumulativa ≤ 0,05% Área cumulativa ≤ 3%
Inclusões Visuais de Carbono Área cumulativa ≤ 0,05% Área cumulativa ≤ 5%
Arranhões na Superfície de Silício por Luz de Alta Intensidade   Comprimento cumulativo ≤ 1 diâmetro do wafer
Lascas de Borda por Luz de Alta Intensidade Nenhuma permitida ≥ 0,2 mm de largura e profundidade 7 permitidas, ≤ 1 mm cada
Dislocação de Parafuso de Rosca < 500 cm³ < 500 cm³
Contaminação da Superfície de Silício por Luz de Alta Intensidade    
Embalagem Cassete Multi-wafer ou Recipiente de Wafer Único Cassete Multi-wafer ou Recipiente de Wafer Único

Por que escolher nossos wafers de SiC

  • Alto Rendimento e Baixa Densidade de Defeitos: Processo avançado de crescimento de cristal garante micropipos e deslocamentos mínimos.

  • Capacidade de Epitaxia Estável: Compatível com múltiplos processos de fabricação de dispositivos e epitaxiais.

  • Especificações Personalizáveis: Disponível em várias orientações, níveis de dopagem e espessuras.

  • Controle de Qualidade Rigoroso: Inspeção completa via XRD, AFM e mapeamento PL para garantir a uniformidade.

  • Suporte à Cadeia de Suprimentos Global: Capacidade de produção confiável para pedidos de protótipos e volumes.


FAQ

P1: Qual é a diferença entre wafers 4H-SiC e 6H-SiC?
A1: 4H-SiC oferece maior mobilidade de elétrons e é preferido para dispositivos de alta potência e alta frequência, enquanto 6H-SiC é adequado para aplicações que exigem maior tensão de ruptura e menor custo.

 

P2: O wafer pode ser fornecido com uma camada epitaxial?
A2: Sim. Wafers de SiC epitaxiais (epi-wafers) estão disponíveis com espessura, tipo de dopagem e uniformidade personalizados de acordo com os requisitos do dispositivo.

 

P3: Como o SiC se compara aos materiais GaN e Si?
A3: SiC suporta tensões e temperaturas mais altas do que GaN ou Si, tornando-o ideal para sistemas de alta potência. GaN é mais adequado para aplicações de alta frequência e baixa tensão.

 

P4: Quais orientações de superfície são comumente usadas?
A4: As orientações mais comuns são (0001) para dispositivos verticais e (11-20) ou (1-100) para estruturas de dispositivos laterais.

 

P5: Qual é o prazo de entrega típico para wafers de SiC de 6 polegadas?
A5: O prazo de entrega padrão é de aproximadamente 4–6 semanas, dependendo das especificações e do volume do pedido.