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Bolacha do carboneto de silicone
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8-inch SiC Epitaxial Wafers Rendimento e Eficiência Escalable Power Electronics

8-inch SiC Epitaxial Wafers Rendimento e Eficiência Escalable Power Electronics

Nome da marca: ZMSH
Número do modelo: 4 polegadas
MOQ: 10
preço: 5 USD
Detalhes da embalagem: caixas personalizadas
Condições de pagamento: T/T
Informações detalhadas
Lugar de origem:
China
Certificação:
by case
Grau:
Grau MPD Zero,Grau de Produção,Grau de Pesquisa,Grau Fictício
Resistividade 4H-N:
0.015~0.028 Ω•cm
Resistividade 4/6H-SI:
≥1E7 Ω·cm
Flat primário:
{10-10} ± 5,0° ou forma redonda
TTV/Bow/Warp:
≤ 10 μm /≤ 10 μm /≤ 15 μm
Resistência à corrosão:
Rugosidade polonesa Ra≤1 nm / Rugosidade CMP Ra≤0.5 nm
Habilidade da fonte:
pelo caso
Destacar:

Wafers de SiC epitaxial

,

Wafer epitaxial SiC de 8 polegadas

Descrição do produto

Visão Geral da Bolacha Epitaxial de SiC

As bolachas epitaxiais de SiC de 8 polegadas (200 mm) estão agora surgindo como o formato mais avançado na indústria de SiC. Representando a vanguarda da ciência dos materiais e da capacidade de fabricação, as bolachas epitaxiais de SiC de 8” oferecem oportunidades incomparáveis para aumentar a produção de dispositivos de potência, ao mesmo tempo em que reduzem o custo por dispositivo.

À medida que a demanda por veículos elétricos, energia renovável e eletrônica de potência industrial continua a aumentar globalmente, as bolachas de 8” estão possibilitando uma nova geração de MOSFETs, diodos e módulos de potência integrados de SiC com maior rendimento, melhor rendimento e custos de fabricação mais baixos.

Com propriedades de ampla banda proibida, alta condutividade térmica e tensão de ruptura excepcional, as bolachas de SiC de 8” estão desbloqueando novos níveis de desempenho e eficiência em eletrônicos de potência avançados.

 

8-inch SiC Epitaxial Wafers Rendimento e Eficiência Escalable Power Electronics 08-inch SiC Epitaxial Wafers Rendimento e Eficiência Escalable Power Electronics 1

 


 

Como as Bolachas Epitaxiais de SiC de 8” São Feitas

 

A fabricação de bolachas epitaxiais de SiC de 8” requer reatores CVD de última geração, controle preciso do crescimento de cristais e tecnologia de substrato ultraplana:

  1. Fabricação do Substrato
    Substratos monocristalinos de SiC de 8” são produzidos por meio de técnicas de sublimação em alta temperatura e, subsequentemente, polidos para uma rugosidade sub-nanométrica.

  2. Crescimento Epitaxial CVD
    Ferramentas CVD avançadas em larga escala operam a ~1600 °C para depositar camadas epitaxiais de SiC de alta qualidade sobre os substratos de 8”, com fluxo de gás otimizado e uniformidade de temperatura para lidar com a área maior.

  3. Dopagem Sob Medida
    Perfis de dopagem do tipo N ou do tipo P são criados com alta uniformidade em toda a bolacha de 300 mm.

  4. Metrologia de Precisão
    O controle da uniformidade, o monitoramento de defeitos de cristal e o gerenciamento do processo in situ garantem a consistência do centro à borda da bolacha.

  5. Garantia de Qualidade Abrangente
    Cada bolacha é validada via:

    • AFM, Raman e XRD

    • Mapeamento de defeitos em toda a bolacha

    • Análise de rugosidade superficial e empenamento

    • Medições de propriedades elétricas


Especificações

  Grau   8InchN-typeSiCSubstrate
1 Politipo -- 4HSiC
2 Tipo de Condutividade -- N
3 Diâmetro mm 200.00±0.5mm
4 Espessura um 700±50µm
5 Eixo de Orientação da Superfície do Cristal grau 4.0°em direção a±0.5°
6 Profundidade do entalhe mm 1~1.25mm
7 Orientação do entalhe grau ±5°
8 Resistividade (Média) Ωcm NA
9 TTV um NA
10 LTV um NA
11 Curvatura um NA
12 Empenamento um NA
13 MPD cm-2 NA
14 TSD cm-2 NA
15 BPD cm-2 NA
16 TED cm-2 NA
17 EPD cm-2 NA
18 Politipos Estrangeiros -- NA
19 SF(BSF)(tamanho da grade de 2x2mm) % NA
20 TUA (Área Total Utilizável) (tamanho da grade de 2x2mm) % NA
21 Exclusão Nominal da Borda mm NA
22 Arranhões visuais -- NA
23 Comprimento cumulativo de arranhões (Superfície Si) mm NA
24 Face Si -- Polido CMP
25 Face C -- Polido CMP
26 Rugosidade da superfície (face Si) nm NA
27 Rugosidade da superfície (face C) nm NA
28 Marcação a laser -- Face C, acima do entalhe
29 Lasca de borda (Superfícies frontal e traseira) -- NA
30 Placas hexagonais -- NA
31 Fissuras -- NA
32 Partículas (≥0.3um) -- NA
33 Contaminação da área (manchas) -- Nenhum: Ambas as faces
34 Contaminação de Metais Residuais (ICP-MS) átomo/cm2 NA
35 Perfil da Borda -- Chanfro, Formato R
36 Embalagem -- Cassete multi-bolacha ou recipiente de bolacha única

 

 


Aplicações

As bolachas epitaxiais de SiC de 8” permitem a produção em massa de dispositivos de potência confiáveis em setores como:

  • Veículos Elétricos (VEs)
    Inversores de tração, carregadores de bordo e conversores CC/CC.

  • Energia Renovável
    Inversores de string solares, conversores de energia eólica.

  • Acionamentos Industriais
    Acionamentos de motor eficientes, sistemas servo.

  • Infraestrutura 5G / RF
    Amplificadores de potência e interruptores de RF.

  • Eletrônicos de Consumo
    Fontes de alimentação compactas e de alta eficiência.


Perguntas Frequentes (FAQ)

1. Qual é o benefício das bolachas de SiC de 8”?
Elas reduzem significativamente o custo de produção por chip por meio do aumento da área da bolacha e do rendimento do processo.

2. Quão madura é a produção de SiC de 8”?
8” está entrando na produção piloto com líderes da indústria selecionados—nossas bolachas estão disponíveis agora para P&D e aumento de volume.

3. A dopagem e a espessura podem ser personalizadas?
Sim, a personalização completa do perfil de dopagem e da espessura do epi está disponível.

4. As fábricas existentes são compatíveis com as bolachas de SiC de 8”?
Atualizações menores de equipamentos são necessárias para compatibilidade total com 8”.

5. Qual é o prazo de entrega típico?
6 a 10 semanas para pedidos iniciais; mais curto para volumes repetidos.

6. Quais indústrias adotarão o SiC de 8” mais rapidamente?
Os setores automotivo, de energia renovável e de infraestrutura de rede.

 


 

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