Wafer SiC de 6 polegadas 4H/6H-P Substrato de Carbono de Silício DSP (111) Semicondutor RF Microondas Laser LED
Detalhes do produto:
Place of Origin: | China |
Marca: | ZMSH |
Model Number: | Silicon Carbide |
Condições de Pagamento e Envio:
Tempo de entrega: | 2-4 semanas |
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Payment Terms: | 100%T/T |
Informação detalhada |
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Materiais: | Carbono de silício | Diâmetro: | 2 polegadas 4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas |
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Particle: | Free/Low Particle | Resistivity: | High/Low Resistivity |
Espessura: | 350um | Surface Finish: | Single/Double Side Polished |
Grau: | Manequim da pesquisa da produção | Type: | 4H/6H-P |
Destacar: | Wafer DSP SiC,Wafer SiC 4H/6H-P,Wafer SiC de 6 polegadas. |
Descrição de produto
Wafer SiC de 6 polegadas 4H/6H-P Substrato de Carbono de Silício DSP (111) Semicondutor RF Microondas Laser LED
Descrição da Wafer SiC:
O Wafer de Carbono de Silício (SiC) de tipo P de 6 polegadas em politipo 4H ou 6H. Ele tem propriedades semelhantes às da wafer de Carbono de Silício (SiC) de tipo N, como resistência a altas temperaturas,Alta condutividade térmica, alta condutividade elétrica, etc. O substrato SiC do tipo P é geralmente usado para a fabricação de dispositivos de energia, especialmente a fabricação de transistores bipolares de portão isolado (IGBT).O projeto de IGBT geralmente envolve junções P-N, onde o SiC de tipo P pode ser vantajoso para controlar o comportamento dos dispositivos.
O Caráter da Wafer SiC:
1Resistência à radiação:
O carburo de silício é altamente resistente aos danos causados pela radiação, tornando as wafers 4H/6H-P SiC ideais para uso em aplicações espaciais e nucleares onde a exposição à radiação é significativa.
2Larga Bandgap:
4H-SiC: A distância de banda é de aproximadamente 3,26 eV.
6H-SiC: a banda é ligeiramente menor, a cerca de 3,0 eV.
Essas largas faixas de banda permitem que as placas de SiC operem a temperaturas e tensões mais altas em comparação com materiais à base de silício, tornando-as ideais para eletrônicos de potência e condições ambientais extremas.
3Campo elétrico de alta degradação:
As placas de SiC têm um campo elétrico de quebra muito maior (cerca de 10 vezes maior que o do silício), o que permite o projeto de dispositivos de energia menores e mais eficientes que podem lidar com altas tensões.
4. Alta condutividade térmica:
O SiC possui excelente condutividade térmica (cerca de 3-4 vezes superior ao silício), permitindo que dispositivos feitos a partir dessas placas operem a alta potência sem superaquecimento.Isso os torna ideais para aplicações de alta potência onde a dissipação de calor é crítica.
5Alta Mobilidade Electrónica:
O 4H-SiC tem uma maior mobilidade eletrônica (~ 950 cm2/Vs) em comparação com o 6H-SiC (~ 400 cm2/Vs), o que significa que o 4H-SiC é mais adequado para aplicações de alta frequência.
Esta alta mobilidade de elétrons permite velocidades de comutação mais rápidas em dispositivos eletrônicos, tornando o 4H-SiC preferível para aplicações de RF e microondas.
6Estabilidade a temperatura:
Os Wafers de SiC podem funcionar a temperaturas muito superiores a 300°C, muito mais elevadas do que os dispositivos à base de silício, que são tipicamente limitados a 150°C. Isso os torna altamente desejáveis para uso em ambientes adversos,como automóveis, aeroespacial e sistemas industriais.
7. Alta resistência mecânica:
As placas de SiC são mecanicamente robustas, com excelente dureza e resistência ao esforço mecânico.
Forma da Wafer SiC:
6 polegadas de diâmetro de carburo de silício (SiC) Especificação do substrato | |||||
Grau | Produção zero de MPD Classe (Classe Z) |
Produção padrão Grau (Grado P) |
Grau de simulação (Classe D) |
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Diâmetro | 145.5 mm~150,0 mm | ||||
Espessura | 350 μm ± 25 μm | ||||
Orientação da wafer | Fora do eixo: 2,0°-4,0° para a direção [1120] ± 0,5° para 4H/6H-P, no eixo: ∼111 ∼ 0,5° para 3C-N | ||||
Densidade dos microtubos | 0 cm-2 | ||||
Resistividade | Tipo p 4H/6H-P | ≤ 0,1 Ω.cm | ≤ 0,3 Ω.cm | ||
Orientação plana primária | Tipo p 4H/6H-P | {1010} ± 5,0° | |||
Duração plana primária | 32.5 mm ± 2,0 mm | ||||
Duração plana secundária | 18.0 mm ± 2,0 mm | ||||
Orientação plana secundária | Silício virado para cima: 90° CW. a partir de Prime flat ± 5,0° | ||||
Exclusão de borda | 3 mm | 6 mm | |||
LTV/TTV/Bow/Warp | ≤ 2,5 μm/≤ 5 μm/≤ 15 μm/≤ 30 μm | ≤ 10 μm/≤ 15 μm/≤ 25 μm/≤ 40 μm | |||
Resistência à corrosão | Ra≤1 nm polaco | ||||
CMP Ra≤0,2 nm | Ra≤0,5 nm | ||||
Fissuras de borda por luz de alta intensidade | Nenhum | Comprimento acumulado ≤ 10 mm, comprimento único ≤ 2 mm | |||
Placas hexadecimais por luz de alta intensidade | Área acumulada ≤ 0,05% | Área acumulada ≤ 0,1% | |||
Áreas de politipo por luz de alta intensidade | Nenhum | Área acumulada≤3% | |||
Inclusões de carbono visuais | Área acumulada ≤ 0,05% | Área acumulada ≤ 3% | |||
A superfície do silício é arranhada pela luz de alta intensidade | Nenhum | Comprimento acumulado ≤ 1 × diâmetro da wafer | |||
Chips de borda de alta intensidade de luz | Nenhuma largura e profundidade ≥ 0,2 mm | 5 permitidos, ≤ 1 mm cada | |||
Contaminação da superfície do silício por alta intensidade | Nenhum | ||||
Embalagem | Cassete com várias placas ou recipiente de uma única placa |
Aplicação da Wafer SiC:
Eletrónica de Potência:
Usado em diodos, MOSFETs e IGBTs para aplicações de alta tensão e alta temperatura, como veículos elétricos, redes elétricas e sistemas de energia renovável.
Dispositivos de RF e microondas:
Ideal para dispositivos de alta frequência, como amplificadores de RF e sistemas de radar.
LEDs e lasers:
O SiC é também utilizado como material de substrato para a produção de LEDs e lasers à base de GaN.
Eletrónica automóvel:
Utilizado em componentes do sistema de transmissão de veículos elétricos e sistemas de carregamento.
Aeroespacial e Militar:
Devido à sua dureza de radiação e estabilidade térmica, as placas de SiC são usadas em satélites, radares militares e outros sistemas de defesa.
Aplicações industriais:
Empregado em fontes de alimentação industriais, motores e outros sistemas eletrónicos de alta potência e alta eficiência.
Imagem de aplicação de Wafer SiC:
Personalização:
A personalização de wafers de carburo de silício (SiC) é essencial para atender às necessidades específicas de várias aplicações eletrônicas, industriais e científicas avançadas.Podemos oferecer uma gama de parâmetros personalizáveis para garantir que as placas são otimizadas para requisitos de dispositivos específicos. Abaixo estão os principais aspectos da personalização de wafer SiC:Orientação cristalina; Diâmetro e espessura; Tipo e concentração de dopagem; Polição e acabamento da superfície; Resistividade; Camada epitaxial; Planilhas e entalhes de orientação;Cloreto de sódio (SiC-on-Si) e outras combinações de substratos.
Embalagem e transporte:
Perguntas frequentes:
1.P: O que é 4H e 6H SiC?
R: 4H-SiC e 6H-SiC representam estruturas cristalinas hexagonais, com "H" indicando simetria hexagonal e os números 4 e 6 as camadas em suas células unitárias.Esta variação estrutural afeta a estrutura de banda eletrônica do material, que é um determinante chave do desempenho de um dispositivo semicondutor.
2.P: O que é um substrato tipo P?
O material do tipo p é um semicondutor que tem um portador de carga positiva, conhecido como buraco.que tem um elétron de valência a menos do que os átomos dos semicondutores.
Recomendação do produto:
1.SiC Wafer de Carbono de Silício Tipo 4H-N Para Dispositivo MOS 2 polegadas Diâmetro 50,6 mm
2.SiC Substrato de Carbono de Silício Substrato 3C-N 5×5 10×10 mm